日志
1. 电阻测试原理:
1.1 固定电流源(constant Current)模式(mode0)
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测元件,帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值.
RANGE Current
1欧姆~299.99欧姆 5mA
300欧姆~2.99K欧姆 500uA
3K欧姆~29.99K欧姆 50uA
30K欧姆~299.99K欧姆 5uA
300K欧姆~2.99M欧姆 0.5uA
3M欧姆~40M欧姆 0.1uA
1.2 低固定电流源(Low constant Current)模式(mode1)
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.
RANGE Current
1欧姆~299.99欧姆 500uA
300欧姆~2.99K欧姆 50uA
3K欧姆~29.99K欧姆 5uA
30K欧姆~299.99K欧姆 0.5uA
300K欧姆~2.99M欧姆 0.1uA
1.3 快速(High-Speed)测试模式(MODE2)
假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC电流源改为0.2V DC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R的值.
1.4 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE3,MODE4,MODE5)
由于电路设计关系,被测试电阻将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH~60H 5欧姆~300K欧姆
10KHz 60uH~600mH 5欧姆~40K欧姆
100KHz 6uH~6mH 5欧姆~4K欧姆
2. 电容/电感测试原理:
2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE0,MODE1,MODE2,MODE3)
对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源作为测试使用,其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.
Debug MODE Signal Source Capacitor Range Inductor Range
0 1KHz 400pF~30uF 6mH~60H
1 10KHz 40pF~4uF 600mH以下
2 100KHz 1pF~40nF 6mH以下
3 1MHz 1pF~300pF 1uH~60uH
ICT后續之發展前景在ICT沒有辦法改善現有缺陷之狀況下，几乎無法成為測試之主流。只能成為最基本之測試，目前對ICT之評價為測試Open,short.一般都不會提到別的功能，因此可想而知。想依靠ICT獲得高薪之可能性很低。個人建議學習一下Agilent3070，依照業屆之評價，它的發展前景至少在15年內都將處于上流測試系統中。至于飛針測試，個人了解不多，但依照行內他人提供之訊息，飛針測試無法使用于量產，因此此處之發展機會相對比較少。
1.1 固定电流源(constant Current)模式(mode0)
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测元件,帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值.
RANGE Current
1欧姆~299.99欧姆 5mA
300欧姆~2.99K欧姆 500uA
3K欧姆~29.99K欧姆 50uA
30K欧姆~299.99K欧姆 5uA
300K欧姆~2.99M欧姆 0.5uA
3M欧姆~40M欧姆 0.1uA
1.2 低固定电流源(Low constant Current)模式(mode1)
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上若有并联(Parallel)着二极体(Diode)或IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V~0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.
RANGE Current
1欧姆~299.99欧姆 500uA
300欧姆~2.99K欧姆 50uA
3K欧姆~29.99K欧姆 5uA
30K欧姆~299.99K欧姆 0.5uA
300K欧姆~2.99M欧姆 0.1uA
1.3 快速(High-Speed)测试模式(MODE2)
假如被测电阻并联一个0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC电流源改为0.2V DC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R的值.
1.4 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE3,MODE4,MODE5)
由于电路设计关系,被测试电阻将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH~60H 5欧姆~300K欧姆
10KHz 60uH~600mH 5欧姆~40K欧姆
100KHz 6uH~6mH 5欧姆~4K欧姆
2. 电容/电感测试原理:
2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE0,MODE1,MODE2,MODE3)
对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源作为测试使用,其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.
Debug MODE Signal Source Capacitor Range Inductor Range
0 1KHz 400pF~30uF 6mH~60H
1 10KHz 40pF~4uF 600mH以下
2 100KHz 1pF~40nF 6mH以下
3 1MHz 1pF~300pF 1uH~60uH
ICT后續之發展前景在ICT沒有辦法改善現有缺陷之狀況下，几乎無法成為測試之主流。只能成為最基本之測試，目前對ICT之評價為測試Open,short.一般都不會提到別的功能，因此可想而知。想依靠ICT獲得高薪之可能性很低。個人建議學習一下Agilent3070，依照業屆之評價，它的發展前景至少在15年內都將處于上流測試系統中。至于飛針測試，個人了解不多，但依照行內他人提供之訊息，飛針測試無法使用于量產，因此此處之發展機會相對比較少。
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